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深圳市金东霖科技有限公司 
| 联系人：夏瑾 女士 (业务) |
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| 电 话：29371652 |
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| 手 机：13602569417 |
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| X荧光镀层膜厚仪 |
美国博曼(Bowman)X荧光镀层测厚仪，精度高、稳定性好，强大的数据统计、处理功能，测量范围宽，NIST认证的标准片，全球服务及支持
X射线激发系统:上照式X射线光学系统,下照式X射线光学系统（型号可选）
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
装备有安全防射线光闸
次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统：*多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
XYZ三轴控制方式：多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
样品观察系统：高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
测厚范围：可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
基本分析：采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：Ti22 – U92；可同时测定5层/15种元素/共存元素校正；贵金属检测，如Au karat评价；材料和合金元素分析；材料鉴别和分类检测；液体样品分析，如镀液中的金属元素含量；多达4个样品的光谱同时显示和比较；元素光谱定性分析
调整和校正：系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
样品台程控：设定测量点，连续多点测量，测量位置预览(图表显示)
统计计算：平均值、标准偏差、相对标准偏差、*大值、*小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图；数据分组、X-bar/R图表、直方图；数据库存储功能
任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
系统安全监测：Z轴保护传感器；样品室门开闭传感器
公司名称：深圳市金东霖科技有限公司
地址:深圳沙井北环大道110号新综合大楼502
公司网址: http://www.kinglinhk.net
联系人：夏小姐 手机：13602569417
QQ：2762951792
邮箱：Cici@Kinglinhk.net |
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